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炬丰科技半导体工艺磷化铟晶片的研磨

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书籍:《炬丰科技-半导体工艺》

文章:磷化铟晶片的研磨减薄

编号:JFKJ-21-

作者:炬丰科技

摘要

InP晶圆,尺寸为2英寸。通过杯型金刚石轮机械研磨,直径成功研磨至~m。该工艺首次可应用于InP光电器件的大规模生产,类似于基于晶圆旋转下进料研磨法的砷化镓器件的技术。InP研磨过程中发生的现象与砷化镓相似,如镜面研磨和粗研磨之间的快速过渡,以及大晶圆弓。然而,由于InP的磨碎导致的变形层比砷化镓的要厚,因为InP更脆弱一些。不过,它还是足够薄,不到1.5~米,可以通过轻微的化学蚀刻来消除。镜面研磨完成的表面粗糙度也较大,但用3~m金刚石晶粒获得0.15~mRmax,足够小,可用于器件制造。

介绍

磷化铟(InP)最近越来越


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